-
কাজের নীতি
-
অ্যাপ্লিকেশন
একটি নিয়ার-ফিল্ড প্রোব হল একটি ডিভাইস যা ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ফিল্ড সনাক্তকরণ এবং পরিমাপ করার জন্য ব্যবহৃত হয়, বিশেষত ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক সামঞ্জস্য (EMC) পরীক্ষা এবং ইলেকট্রনিক ডিভাইস এবং সার্কিটে ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ইন্টারফারেন্স (EMI) নির্ণয়ের জন্য উপযুক্ত। কাছাকাছি-ক্ষেত্র প্রোবের কাজের নীতি এবং প্রয়োগগুলি নিম্নরূপ:
কাজের নীতি
ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ফিল্ড ডিটেকশন
নিয়ার-ফিল্ড প্রোবগুলি ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ফিল্ড সনাক্ত করতে অ্যান্টেনা বা সেন্সর ব্যবহার করে। প্রোবের নকশার উপর নির্ভর করে, এটি বৈদ্যুতিক ক্ষেত্র, চৌম্বক ক্ষেত্র বা উভয়ের সংমিশ্রণ সনাক্ত করতে পারে। সাধারণ ধরনের কাছাকাছি-ক্ষেত্র প্রোবের মধ্যে রয়েছে বৈদ্যুতিক ক্ষেত্র প্রোব এবং চৌম্বক ক্ষেত্র প্রোব।
সংকেত রূপান্তর
প্রোব দ্বারা সনাক্ত করা ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ফিল্ড সিগন্যালগুলি অন্তর্নির্মিত রূপান্তর সার্কিটের মাধ্যমে ভোল্টেজ সংকেতে রূপান্তরিত হয়। এই সংকেতগুলি তখন পরিমাপের সরঞ্জামগুলিতে প্রেরণ করা যেতে পারে, যেমন অসিলোস্কোপ বা বর্ণালী বিশ্লেষক।
সংকেত বিশ্লেষণ
পরিমাপের সরঞ্জামগুলি ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক হস্তক্ষেপের ফ্রিকোয়েন্সি, তীব্রতা এবং উত্স নির্ধারণ করতে প্রাপ্ত ভোল্টেজ সংকেতগুলি প্রক্রিয়া করে এবং বিশ্লেষণ করে।
অ্যাপ্লিকেশন
ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক সামঞ্জস্য পরীক্ষা
- EMC টেস্টিং: ইলেকট্রনিক পণ্যের বিকাশের সময়, কাছাকাছি-ক্ষেত্র প্রোবগুলি সার্কিট বোর্ড এবং উপাদানগুলি থেকে ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক নির্গমন সনাক্ত করতে ব্যবহৃত হয় যাতে তারা EMC মান মেনে চলে।
- ইএমআই ডায়াগনসিস: একটি পণ্যের বিকাশ এবং পরীক্ষার পর্যায়ে, কাছাকাছি-ক্ষেত্রের প্রোবগুলি ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক হস্তক্ষেপের উত্সগুলি সনাক্ত ও নির্ণয় করতে সহায়তা করে, হস্তক্ষেপ কমাতে ব্যবস্থাগুলি সক্ষম করে।
সার্কিট বোর্ড সমস্যা সমাধান
নিয়ার-ফিল্ড প্রোবগুলি সার্কিট বোর্ডগুলিতে শব্দ এবং হস্তক্ষেপের উত্সগুলি পরীক্ষা করতে ব্যবহৃত হয়, যা ইঞ্জিনিয়ারদের দ্রুত ত্রুটির জায়গাগুলি সনাক্ত করতে সহায়তা করে, বিশেষত জটিল সার্কিটে।
অ্যান্টেনা পরীক্ষা
নিয়ার-ফিল্ড প্রোবগুলি অ্যান্টেনার কার্যকারিতা বিশ্লেষণ এবং অপ্টিমাইজ করার জন্য অ্যান্টেনার কাছাকাছি-ক্ষেত্র পরীক্ষার জন্য ব্যবহার করা হয়। তারা অ্যান্টেনার বিকিরণ প্যাটার্ন এবং ক্ষেত্রের শক্তি বিতরণ পরিমাপ করতে পারে।
শিল্ডিং কার্যকারিতা পরীক্ষা
নিয়ার-ফিল্ড প্রোবগুলি ঢালের ভিতরে এবং বাইরে ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ক্ষেত্রের শক্তির পার্থক্য পরিমাপ করে শিল্ডিং উপকরণ বা শিল্ডিং ঘেরের কার্যকারিতা মূল্যায়ন করে।
সুবিধাদি
উচ্চ রেজল্যুশন
নিয়ার-ফিল্ড প্রোবগুলি খুব উচ্চ স্থানিক রেজোলিউশন প্রদান করতে পারে, যা হস্তক্ষেপের উত্সগুলির সুনির্দিষ্ট স্থানীয়করণের অনুমতি দেয়।
বহনযোগ্যতা
এগুলি সাধারণত কম্প্যাক্ট এবং পোর্টেবল, অন-সাইট পরীক্ষা এবং দ্রুত নির্ণয়ের জন্য উপযুক্ত ডিজাইন করা হয়।
নন-ইনভেসিভ
সনাক্তকরণের জন্য কাছাকাছি-ক্ষেত্র প্রোব ব্যবহার করে পরীক্ষা করা ডিভাইসটিকে প্রভাবিত করে না।
সংক্ষেপে, ইলেকট্রনিক পণ্যগুলির বিকাশ, পরীক্ষা এবং সমস্যা সমাধানে কাছাকাছি-ক্ষেত্রের প্রোবগুলি গুরুত্বপূর্ণ ভূমিকা পালন করে, ইঞ্জিনিয়ারদের ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক সামঞ্জস্য উন্নত করতে, ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক হস্তক্ষেপ কমাতে এবং পণ্যের গুণমান এবং নির্ভরযোগ্যতা বাড়াতে সহায়তা করে।
