ORF5060 নিয়ার ফিল্ড প্রোব

ORF5060 কাছাকাছি{1}}ক্ষেত্র প্রোবটি EMI(ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক হস্তক্ষেপ) পরিমাপের জন্য OWON সিরিজের বর্ণালী বিশ্লেষকগুলির সাথে ব্যবহার করা হয়। এটি উপাদান পৃষ্ঠ, চৌম্বকীয় সংযোগ পাথ, এবং ইলেকট্রনিক মডিউলগুলির কাছাকাছি চৌম্বকীয় পরিবেশে চৌম্বক ক্ষেত্রের তীব্রতা সনাক্ত করে, ইএমএল উত্সগুলির দ্রুত সনাক্তকরণ এবং বিশ্লেষণ সক্ষম করে।